精準測量新突破！日本AND BM-5微量分析天平重磅發(fā)布，助力科研與工業(yè)檢測升級

近日，一款專注于微量級樣品測量的新型分析設(shè)備——BM-5微量分析天平正式推向市場。該產(chǎn)品憑借超高精度、穩(wěn)定性能與智能化設(shè)計，為生物醫(yī)藥、材料科學、環(huán)境監(jiān)測等對測量精度要求嚴苛的領(lǐng)域，提供了更可靠的檢測解決方案。

據(jù)了解，BM-5微量分析天平的核心測量精度可達0.1微克級別，能精準捕捉極細微的樣品質(zhì)量變化，有效解決了傳統(tǒng)設(shè)備在微量樣品稱量中誤差較大的痛點。同時，設(shè)備搭載了抗干擾振動補償技術(shù)，即使在實驗室常規(guī)環(huán)境波動下，也能保持數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，減少外界因素對測量結(jié)果的影響。

在操作體驗上，BM-5進行了多項優(yōu)化。其配備的高清觸控屏支持一鍵校準、數(shù)據(jù)導出功能，可直接將測量結(jié)果同步至電腦或?qū)嶒炇夜芾硐到y(tǒng)，簡化數(shù)據(jù)記錄與分析流程；機身采用防腐蝕材質(zhì)，適配化學試劑、生物樣本等特殊樣品的稱量場景，延長設(shè)備使用壽命。

“微量分析是科研突破與工業(yè)質(zhì)控的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，BM-5的推出，就是為了讓精準測量更高效、更便捷。"品牌負責人表示，目前該設(shè)備已通過多項行業(yè)檢測認證，未來將進一步適配不同行業(yè)的定制化需求，為更多領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新提供基礎(chǔ)支撐。